Núñez Pérez, R. F. (2015) «La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrónico, programas y aplicaciones a señales de diversos campos», Ingeniería Investigación y Tecnología, 15(1). Disponible en: https://revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/article/view/45801 (Accedido: 28 marzo 2025).