Núñez Pérez RF. La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrónico, programas y aplicaciones a señales de diversos campos. Revista-IIT [Internet]. 14 de enero de 2015 [citado 28 de mayo de 2024];15(1). Disponible en: https://revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/article/view/45801